課程主題:

產品壽命預測需依據正確的加速模型與外推方法，並與實際失效機制相符，否則預測將失真,加速壽命測試（ALT）與加速劣化測試（ADT）是縮短測試時程、提升預測效率的關鍵技術，但必須建立在嚴謹的模型選擇、數據分析與驗證基礎上，才能確保可靠度工程的有效性與準確性

本教學將介紹一套建立於物理基礎之上的正確外推方法，並輔以實例說明其實際應用效果與準確性

本課程內容已於IEEE International Reliability Physics Symposium（IRPS）及IEEE Reliability and Maintainability Symposium（RAMS）中發表，並獲得專業認可

IEEE International Reliability Physics Symposium（IRPS）為全球最具影響力的電子與半導體元件可靠度物理研究與應用研討會，自 1963 年創立以來，已成為業界與學術界發表可靠度相關研究成果的權威平台。IRPS 是可靠度與失效物理領域最重要的國際學術平台, 深受半導體產業、電子元件設計與可靠度工程人員重視. 多項發表成果被納入：JEDEC 標準規範; 產品可靠度驗證程序; 業界模型建構與產品壽命推估參考依據
IEEE RAMS（Reliability and Maintainability Symposium）是全球最具影響力的研討會，專注於產品與系統的可靠性（Reliability）、可維修性（Maintainability）、可用性（Availability）及相關工程方法的研究與實務應用。 產業導向與實務應用性高，廣泛吸引來自航太、軍工、能源、醫療、運輸等產業的技術與管理人員參與, 是企業與學術界發表可靠度方法、案例研究與工具開發的重要平台, 提供專題課程 (Tutorials）、技術論文發表與實務座談